今日推薦KAKUHUNTER寫真化學(xué)成像膜厚計(jì) 

今日推薦KAKUHUNTER寫真化學(xué)成像膜厚計(jì) 

這是一種膜厚計(jì)，可以利用顯微圖像光譜法將透明多層膜的膜厚分布可視化。

由于使用光學(xué)干涉法計(jì)算膜厚，因此可以

以0.1nm以下的分辨率以3D方式顯示膜厚分布。

測(cè)量顯微鏡視野內(nèi)任何區(qū)域的

膜厚和膜質(zhì)量分布，并以 3D 形式顯示分布

分辨率相當(dāng)于可見(jiàn)光波長(zhǎng)干膜測(cè)厚儀

波長(zhǎng)范圍從 450nm 到 750nm 可以以 1nm 增量 

使用與反射膜厚度監(jiān)視器相同的計(jì)算引擎進(jìn)行并行計(jì)算

應(yīng)用實(shí)例

① 數(shù)百層重復(fù)層壓薄膜、溝槽等復(fù)合結(jié)構(gòu)。

② 使用 EMA（有效介質(zhì)近似）法估算亞微米圖案的密度

③ 局部結(jié)晶度評(píng)價(jià)

您可以根據(jù)工作和應(yīng)用選擇物鏡。

• 我想輕松測(cè)量透明多層薄膜每一層的厚度。

• 我想自動(dòng)測(cè)量多個(gè)點(diǎn)的薄膜厚度。

• 我想以10μm以下的高分辨率研究膜厚分布。

• 我想測(cè)量半透明板的厚度。